Электронный каталог НБ БНТУ
rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)
ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога
ФИЛИАЛЫ
КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ
Поиск :
Новые поступления
Простой поиск
Расширенный поиск
Авторы
Издательства
Серии
Тезаурус (Рубрики)
Учебная литература:
По дисциплинам
По специальностям
По специализациям
По кафедрам
Список дисциплин
Информация о фонде
Помощь
Личный кабинет :
Штрих-код
Пароль
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Вабищевич, Н.В.
Сортировать по:
заглавию
Связанные описания:
Отобрать для печати:
страницу
|
инверсия
|
сброс
|
печать
(
0
)
Многотомник
Макаренко, Г.М.
Задачи по физике: пособие [для студентов вузов технических специальностей] : в 4 ч.
ПГУ, 2011 г.
ISBN 978-985-531-043-4
На полку
Книга (аналит. описание)
Бринкевич, Д.И.
Индентирование облученных электронами пленок позитивных новолачных фоторезистов на кремнии
Indentation of electron irradiated positive novolac photoresists films on silicon
б.г.
ISBN отсутствует
полный текст
На полку
Книга (аналит. описание)
Черный, Владимир Владимирович
Исследование прочностных свойств пленок фоторезиста на кремнии методом склерометрии
б.г.
ISBN отсутствует
полный текст
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Макаренко, Г.М.
Краткий справочник по общей физике
ПГУ, 2011 г.
ISBN 978-985-531-158-5
ОХОФ
Заказать
На полку
Книга (аналит. описание)
Черный, Владимир Владимирович
Прочностные свойства и морфология поверхности структур фоторезист ФП9120-кремний
б.г.
ISBN отсутствует
полный текст
На полку
Статья
Бринкевич, Д.И.
Склерометрический метод измерения микротвердости пленок фоторезиста на кремнии
Measurement of microhardness of photoresist films on silicon by the scratching method
б.г.
ISBN отсутствует
полный текст
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Ч.2. : Электромагнетизм. Оптика. Физика атомов
2012 г.
ISBN 978-985-531-338-1
ОХОФ
Заказать
На полку